关键词 |
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面向地区 |
品牌 |
天瑞 |
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光源 |
X射线 |
X荧光光谱仪的工作原理基于X射线照射样品时所产生的荧光现象。当一束X射线照射到样品表面时，样品中的原子会吸收X射线能量，这使得一些内层电子被激发并从原子中释放。为了恢复稳定状态，这些原子会从外层电子中捕获电子，释放出特定波长的荧光X射线。这些荧光X射线的波长和强度与样品中元素的种类和数量密切相关，因此可以通过分析荧光X射线来确定样品的成分及其含量。
无需样品前处理：与其他分析方法相比，XRF不需要耗时的样品准备过程，可以直接对固体、液体和粉末等多种形态的样品进行分析。
快速分析：XRF技术能够在短时间内提供的分析结果，相比传统的化学分析方法，其分析速度有显著优势。
高灵敏度和准确度：现代XRF仪器具有的灵敏度，能够检测到ppm（百万分之一）级别的元素含量，并且可以同时分析多种元素。
非破坏性检测：样品在测试过程中不受损害，这使得XRF非常适合于贵重物品或易碎材料的分析。
便携化：近年来，便携式XRF分析仪迅速发展，这使得现场分析成为可能，为环境监测和材料分析带来了便利。
多元素同时分析的能力提升：现代仪器的技术不断改进，未来的XRF将更加加强其多元素同时分析的功能，实现更率的工作方式。
智能化与数据化：利用人工智能和大数据技术，优化分析流程，提升数据处理的准确性，进一步推动XRF技术的发展。
新型材料的应用：在新能源、纳米材料等新兴领域，XRF仪器将被应用于新型材料的研究与开发。
应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
标准配置移动样品平台
Si-pin探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
X荧光分析仪主要由X射线源、样品舱、检测器、数据处理系统等部分组成。每一个组件都有其特殊的功能：
- X射线源：产生高能X射线的部分，直接影响测量的灵敏度与准确度。
- 样品舱：用于容纳待分析样品，有时需要真空环境以减少空气对测量的干扰。
- 检测器：负责捕捉荧光信号，现代仪器多采用半导体探测器，例如硅漂移探测器（SDD），它具有高能量分辨率和快速响应的特点。
- 数据处理软件：对捕捉到的信号进行处理，分析后生成各元素的浓度数据。
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